薄層色譜掃描儀是一種全波長掃描儀，提供波長200-800nm范圍的可選波長，通過檢測樣品對光的吸收強(qiáng)弱確定物質(zhì)含量。該掃描儀也能檢測254nm或365nm紫外照射產(chǎn)生的熒光強(qiáng)度，從而進(jìn)行特異性檢測。

 

　　傳統(tǒng)掃描儀的掃描方式分為:單光束掃描、雙光束掃描和雙波長掃描。

 

　　單光束掃描:采用單一光束(即單一波長掃描)，其結(jié)果就是上圖中一特定波長條件下的單條曲線。儀器結(jié)構(gòu)簡單，但是基線不穩(wěn)，實(shí)際中很少使用。

 

　　雙光束掃描:采用同一波長的兩個(gè)光束同步掃描，一個(gè)光束掃描樣品展開通道，另一個(gè)光束掃描樣品通道旁邊的空白區(qū)域，這樣就可扣除空白吸收，部分消除薄層板展開方向鋪板不均勻產(chǎn)生的誤差。但是無法消除垂至于展開方向鋪板不均勻產(chǎn)生的誤差。

 

　　雙波長掃描:兩個(gè)不同波長的光束交替掃描樣品展開的通道區(qū)域，波長選擇時(shí)，一個(gè)波長為樣品大吸收位置，另一是吸收極小值位置。如上圖所示，如檢測目標(biāo)為3(則大吸收峰為290nm，極小值可選200nm、260nm或325nm)。這種方法可基本消除鋪板不均產(chǎn)生的誤差，因此掃描基線很穩(wěn)定。

 

　　直線掃描:用可以覆蓋樣品展開通道的寬光束一次性掃完整個(gè)展開通道，即在展開方向上(圖中橫坐標(biāo))，每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)只是一個(gè)掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)。

 

　　鋸齒掃描:采用點(diǎn)狀光源，光點(diǎn)尺寸小于通道寬度，因此在展開方向移動(dòng)到任何一點(diǎn)時(shí)，光源都要逐點(diǎn)沿樣品通道方向掃描，即形成"之"形(或鋸齒形掃描)。這樣，在展開方向上每一點(diǎn)的數(shù)據(jù)都是多個(gè)點(diǎn)掃描結(jié)果的累加值。鋸齒掃描的精度相對直線掃描明顯提高。