當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 物理光學(xué)儀器 > 熔點(diǎn)儀 > SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀 上海儀電
簡要描述:應(yīng)用范圍:測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃
zui小讀數(shù):0.1℃
測量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時)
±2℃(在200~300℃時)
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)
產(chǎn)品咨詢
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